UV-Vis Tauc plot 怎麼畫?一鍵計算材料 Band Gap 的完整教學
Tauc plot 是什麼?為什麼 UV-Vis 可以估算 Band Gap?
在半導體、光觸媒、薄膜、鈣鈦礦與光電材料研究中,研究者常用 UV-Vis 吸收光譜估算光學能隙(optical band gap)。最常見的方法之一,就是建立 Tauc plot,再將吸收邊附近的線性區域外推到光子能量軸,得到 Eg。
Tauc 分析的重點不是只按下「畫一條直線」,而是要先確認材料適合直接躍遷(direct transition)或間接躍遷(indirect transition)的模型,並合理選擇線性區域。若模型或區域選錯,即使圖看起來很漂亮,Eg 也可能沒有可靠的物理意義。

Tauc plot 的基本公式
常見形式為:
(αhν)^n = A(hν − Eg)
其中:
α:吸收係數hν:光子能量Eg:光學能隙A:比例常數n:依躍遷類型設定
實務上常見兩種選擇:
- 直接允許躍遷:繪製
(αhν)²對hν - 間接允許躍遷:繪製
(αhν)^(1/2)對hν
在接近吸收邊的近似線性區域做線性擬合,將直線延伸至 y = 0,與 x 軸的交點就是估計的 Eg。若你不確定材料屬於哪一種躍遷,應依材料文獻、晶體結構與實驗條件進行判斷,不能只因某一種模型得到更接近預期的數字就直接採用。

從 UV-Vis 原始資料到 Tauc plot 的操作步驟
Step 1:準備 wavelength 與 absorbance 資料
Spectra Studio 可載入 UV-Vis 的 .txt、.xy 與 .csv 檔案,並自動辨識以 nm 為單位的 wavelength 軸。支援的常見波長範圍約為 190–1200 nm。
如果儀器輸出的是 transmittance、reflectance 或其他格式,應先確認資料是否已轉成適合吸收分析的 absorbance,並在方法部分記錄轉換方式。不要直接把不同物理量混在同一個 Tauc 計算中。
Step 2:開啟 Tauc Bandgap 分析
載入光譜後,點選 Tauc Bandgap。工具提供 direct 與 indirect 模式切換,會將 wavelength 轉換成 photon energy,建立相應的 Tauc plot,並在圖上標註估算出的 Eg 及對應波長。
Step 3:選擇自動或手動線性區域
Spectra Studio 會先自動偵測適合的線性區域並繪製切線,方便快速得到初始結果。若自動區域沒有涵蓋你認為最合理的吸收邊,可切換到 manual mode,在圖上點選兩個位置:第一點為起點,第二點為終點,系統會即時重新計算。
自動結果的精度約為工具介面提供的初步估計,不應被視為所有材料與儀器條件下的絕對誤差保證。正式投稿前,建議檢查原始吸收光譜、基線、線性區間、擬合 R² 以及不同區域對 Eg 的敏感度。
Step 4:有薄膜厚度時,設定吸收係數
如果你有薄膜厚度 d,Spectra Studio 可使用:
α = 2.303A / d
將 absorbance A 與膜厚轉成吸收係數。厚度以 μm 輸入時,應確認後續單位與圖軸設定一致。
如果沒有膜厚,也可以使用相對吸收係數進行 Tauc 分析;在這種情況下,能隙交點的數值不受整體 α 比例常數影響,但資料品質、基線與線性區間仍會影響結果。
Tauc plot 最常見的五個錯誤
1. 把吸收邊波長直接當成 Eg
波長與能量不是同一個量。Tauc 分析會先使用 E = hc/λ 轉成 photon energy,再進行線性外推。吸收邊波長可以提供直觀參考,但不應取代完整的 Tauc 分析。
2. 沒有說明 direct 或 indirect 模型
同一份 UV-Vis 資料使用不同的 n 值,可能得到不同的 Eg。論文中應明確交代選擇的躍遷模型與理由。
3. 把整段曲線都拿去做線性擬合
Tauc plot 的線性區域通常只在吸收邊附近。若把低能量尾端、雜訊區或高能量強吸收區全部納入,外推結果會被拉偏。
4. 忽略樣品厚度與資料前處理
對薄膜來說,厚度與基線會影響吸收係數;對粉末或散射嚴重樣品,吸收光譜也可能受到樣品製備與儀器幾何影響。應在方法與限制中說明。
5. 把自動結果當成不需要審查的答案
自動偵測適合加速重複工作,不代表可以跳過科學判讀。最終仍要確認線性區、相別、材料模型與文獻是否一致。

為什麼用 Spectra Studio 做 Tauc plot?
手動建立 Tauc plot 往往需要在 Excel 或 Origin 中重複處理 wavelength、photon energy、alpha、平方或平方根轉換、線性區選擇與圖上標註。如果使用 Python,還要維護資料清理、單位轉換與繪圖程式。
Spectra Studio Pro 把這些常見步驟集中在一個 Windows 介面:
- UV-Vis
.txt、.xy、.csv直接載入 - wavelength(nm)自動辨識
- direct
(αhν)²與 indirect(αhν)^(1/2)一鍵切換 - 自動偵測線性區並繪製切線
- 可用兩點手動微調線性區
Eg與對應波長直接標在圖上- 可選填薄膜厚度,計算吸收係數
- 與 XRD、FTIR、Raman 圖譜使用同一套 journal style 與輸出流程
需要 Tauc Bandgap 的使用者可以先下載同一個安裝程式,Free 版完成資料載入與基本圖譜整理;Pro key 則解鎖 Tauc、峰擬合、晶粒尺寸與向量輸出等進階功能。
常見問題
Tauc plot 一定能得到材料真正的 band gap 嗎?
Tauc plot 得到的是根據吸收資料、躍遷模型與線性外推得到的光學能隙估計。它會受到樣品品質、散射、缺陷態、厚度、基線與線性區選擇影響,不應脫離實驗條件解讀。
沒有薄膜厚度可以做 Tauc plot 嗎?
可以使用相對吸收係數進行估算。整體比例常數不會改變理想線性外推的 x 軸交點,但仍要確認 absorbance 資料與前處理方式合理。
Direct 與 indirect 要選哪一個?
依材料已知電子結構、文獻與研究目的選擇。若兩種模型都測試,應報告選擇標準,而不是只挑結果最好看的那一條線。
有沒有不用 Python 的 Tauc plot 軟體?
Spectra Studio Pro 可直接載入 UV-Vis 資料,切換 direct/indirect 模式,自動或手動選擇線性區並標註 Eg。
結語
Tauc plot 的價值在於把 UV-Vis 吸收邊轉成可比較的光學能隙估計,但可靠結果來自正確的資料、合理的躍遷模型與透明的線性區選擇。Spectra Studio 可以把 wavelength 轉換、Tauc 變換、線性區與圖上標註集中處理,讓你把時間留給材料判讀,而不是重複搬運欄位與公式。
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