XRD 峰擬合怎麼做?Gaussian、Lorentzian 與 FWHM 分析完整指南
為什麼 XRD 不能只用滑鼠讀取最高點?
XRD 圖譜中的峰位置、峰高、峰面積與半高寬,往往會被用來討論晶相、結晶性、微晶尺寸與材料處理前後的差異。但當兩個峰彼此靠近、背景不平,或樣品峰形不對稱時,直接用游標讀取最高點與寬度,結果很容易受到主觀判斷影響。
這就是 XRD peak fitting(XRD 峰擬合) 的用途:用數學峰形描述實驗資料,將重疊峰拆開,並回報每一個峰的中心位置、FWHM、面積與擬合品質。對需要把數值放進論文結果表或 supplementary materials 的研究者來說,峰擬合通常比手動量測更容易重複。

Gaussian、Lorentzian 與 mixed profile 有什麼差別?
常見的 XRD 峰形包括 Gaussian 與 Lorentzian。簡單來說:
- Gaussian profile:峰形由中心向兩側平滑下降,常用來描述許多統計性展寬來源。
- Lorentzian profile:峰尾通常比 Gaussian 更長,在某些尺寸或物理展寬模型中常見。
- Mixed profile:以兩者的組合描述實際峰形,適合單一理想峰形無法充分表達的資料。
沒有任何一種峰形可以對所有材料與儀器資料一律適用。選擇模型時,應該結合儀器設定、研究領域常用方法、峰形殘差與擬合穩定性,而不是只挑讓 R² 最高的模型。

XRD 峰擬合通常會得到哪些結果?
一個完整的峰擬合結果至少應該包含:
- Peak position:峰中心位置,例如 2θ。
- FWHM:半高寬,可用於比較展寬,或進一步帶入 Scherrer 方程。
- Peak area:峰面積,可用於比較相對訊號或在特定模型下估算結晶性。
- R²:擬合解釋資料變異的指標之一。
- Residuals:原始資料與擬合曲線之間的差異。
R² 很高不代表模型一定正確。建議同時觀察原始曲線、總擬合曲線、各個個別峰,以及 residuals 是否在峰頂、峰尾或背景處呈現系統性偏差。若殘差明顯呈現規律波形,可能代表峰形、背景或峰數設定仍不合適。
實際操作流程:從重疊峰到可用的結果表
第一步:先載入原始 XRD 檔案
保留原始資料副本,再載入 .xrdml、.brml、.uxd 或一般的 .txt、.xy、.csv、.dat 檔案。PANalytical 與 Bruker 的檔案可直接讀取,減少先轉檔再分析時遺失資訊的機會。
第二步:處理背景,但不要過度平滑
如果背景明顯傾斜或有螢光背景,可以先使用 baseline correction。若資料雜訊較大,可先以 Savitzky–Golay smoothing 預覽效果,但必須確認 smoothing 沒有把窄峰削平、讓峰變寬或製造假峰。
一個好的原則是:處理後的曲線用於幫助偵測與擬合,原始資料仍應保留,並在論文方法中說明處理參數。
第三步:自動偵測候選峰
先用高度與形狀為基礎的自動峰偵測找出候選峰,再調整 sensitivity。偵測結果應回到圖上檢查:真正的峰是否被找到?背景起伏是否被誤判?兩個重疊峰是否需要拆分?
第四步:選擇峰形並進行擬合
在 Spectra Studio 的 Pro 峰擬合功能中,可使用 Gaussian、Lorentzian 或 mixed profiles。自動偵測到的峰會提供初始值,接著由擬合程序調整峰位置、寬度與強度,並顯示總曲線、個別峰與 residuals。
第五步:檢查結果,而不是只看一個數字
確認以下幾點:
- 個別峰是否落在合理的 2θ 位置?
- 擬合曲線是否跟上峰頂與峰尾?
- residuals 是否在某一側持續偏高或偏低?
- 峰數是否過少,導致重疊峰被錯誤合併?
- 峰數是否過多,變成沒有物理意義的 overfitting?
- FWHM 是否受到儀器展寬或背景處理影響?
完成後,結果表會列出 position、FWHM、area、R² 與 residuals,可整理到論文或補充資料中。

峰擬合與晶粒尺寸計算的關係
XRD 峰擬合不只是為了讓圖看起來漂亮。對重疊峰而言,先把各峰分開,才能得到較合理的單峰 FWHM,再進行 Scherrer 或 Williamson–Hall 分析。
但要注意,峰擬合得到的是模型下的峰寬,不代表所有展寬都來自微晶尺寸。若要報告晶粒尺寸,仍需說明使用的形狀因子、X 光波長,以及是否進行儀器展寬校正。若峰形選擇或基線設定改變,計算出的尺寸也可能改變。
用 Spectra Studio 做 XRD 峰擬合的優點
許多研究者會在 Origin 中手動設定多個峰,或用 Python 建立 scipy、lmfit 與 matplotlib 的分析腳本。這些方法都很有彈性,但也需要處理環境安裝、初始值、檔案格式與繪圖樣式。
Spectra Studio 適合想快速完成常見 XRD 工作流程的人:
- 不必安裝 Python 或額外依賴套件
- 可直接讀取多種儀器與通用格式
- 自動偵測結果可作為峰擬合初始值
- Gaussian、Lorentzian 與 mixed profile 集中在同一個介面
- 一次查看個別峰、總擬合曲線與 residuals
- Pro 可進一步做 Scherrer、Williamson–Hall、phase matching 與 Miller index 標註
- Nature、ACS、Elsevier 樣式可一鍵切換,再微調字體、線寬、座標軸與圖例
Free 版可以先完成載入、平滑、基線校正、峰偵測與 PNG/JPG 圖片輸出;峰擬合與進階定量分析則由 Pro 解鎖。資料在本機處理,不需要建立帳戶,也不會把光譜上傳到雲端。
常見問題
XRD 峰擬合一定要用 Gaussian 嗎?
不一定。Gaussian、Lorentzian 或 mixed profile 各有適用情境,應根據材料、儀器與殘差表現選擇。不要因為某一種峰形常見,就直接套用到所有樣品。
R² 越高,結果就越可信嗎?
不一定。R² 應與 residuals、峰形、峰數及材料物理意義一起判斷。過度增加峰數可能讓 R² 變高,卻造成 overfitting。
重疊峰可以直接用 FWHM 嗎?
若重疊嚴重,直接量整個包絡峰的 FWHM 可能高估峰寬。更好的做法是先以合理的多峰模型擬合,再檢查每個單峰的結果。
有免費的 XRD peak fitting software 嗎?
Spectra Studio 提供 Windows Free 版,基本圖譜處理與峰偵測不需要付費;Pro 版則增加 Gaussian/Lorentzian/mixed 峰擬合與進階分析功能。
結語
XRD 峰擬合的價值不只是把曲線畫得更平滑,而是讓重疊峰、FWHM、峰面積與擬合品質變成可檢查、可重複的分析結果。只要保留原始資料、合理設定背景與峰形,並同時查看 residuals,峰擬合就能成為從原始 XRD 檔案走向論文數據表的重要一步。
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